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簡(jiǎn)要描述：CSPM5500系列研究級(jí)掃描探針顯微鏡
產(chǎn)品型號(hào)： CSPM5500
所屬分類(lèi)：測(cè)量顯微鏡
更新時(shí)間：2024-03-19
CSPM5500系列研究級(jí)掃描探針顯微鏡
三種型號(hào)： CSPM5500/CSPM5500A/CSPM5500LS
CSPM5500掃描探針顯微鏡工作模式簡(jiǎn)介
環(huán)境檢測(cè)及控制掃描探針顯微鏡顯微鏡
磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡
液相掃描探針顯微鏡
精益求精、信心之選
納米加工
主流的研究級(jí)專(zhuān)業(yè)儀器，集成原子力顯微鏡(AFM)，橫向力顯微鏡(LFM)，掃描隧道顯微鏡(STM)
分辨率： 原子力顯微鏡：橫向0.2nm，垂直0.03nm（以云母晶體標(biāo)定）
掃描隧道顯微鏡：橫向0.1nm，垂直0.01nm（以石墨晶體標(biāo)定）
高精度計(jì)量型儀器，采用NanoSensors提供的可溯源于計(jì)量機(jī)構(gòu)PTB的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行校準(zhǔn)
一鍵式快速全程全自動(dòng)進(jìn)樣，無(wú)需手動(dòng)預(yù)調(diào)，行程大于30mm，可容納超大樣品，樣品尺寸為：45mm×45mm×30mm
兩級(jí)可讀數(shù)樣品調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，可對(duì)樣品進(jìn)行無(wú)偏差的檢測(cè)區(qū)域定位
一次掃描技術(shù)，圖像分辨高達(dá)4096×4096物理象素，微米級(jí)掃描即可得到納米級(jí)的實(shí)際信息
*PID反饋算法實(shí)現(xiàn)快速高精度作用力控制，確保系統(tǒng)在高速掃描中穩(wěn)定成像，實(shí)際掃描速度提升一個(gè)數(shù)量級(jí)
系統(tǒng)采用10M/100M快速以太網(wǎng)(Fast Ethernet 10/100)或USB 3.0與計(jì)算機(jī)連接，支持固件遠(yuǎn)程升級(jí)
主控機(jī)箱前面板具有16×4液晶顯示屏，系統(tǒng)當(dāng)前狀態(tài)實(shí)時(shí)顯示
具備實(shí)時(shí)在線(xiàn)三維圖像顯示功能，便于用戶(hù)在檢測(cè)過(guò)程中隨時(shí)直觀獲得樣品信息
集成了多功能，多模式的新型原子力顯微鏡
系統(tǒng)功能
原子力顯微鏡(AFM)：包括接觸、輕敲、相移成像(Phase Imaging)等多種工作模式
橫向力顯微鏡(LFM)：具有摩擦力回路曲線(xiàn)、摩擦力載荷曲線(xiàn)、摩擦力恒載荷曲線(xiàn)等摩擦學(xué)性能分析測(cè)量功能
掃描隧道顯微鏡(STM)：包括恒流模式、恒高模式、I-V曲線(xiàn)、I-Z曲線(xiàn)等
曲線(xiàn)測(cè)量分析功能：力-距離曲線(xiàn)、振幅-距離曲線(xiàn)、相移-距離曲線(xiàn)等
選配功能
納米加工：包括圖形刻蝕模式、壓痕/機(jī)械刻畫(huà)、矢量掃描模式、DPN浸潤(rùn)筆模式等
磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡
環(huán)境控制掃描探針顯微鏡
液相掃描探針顯微鏡
導(dǎo)電原子力顯微鏡
掃描探針聲學(xué)顯微鏡
掃描開(kāi)爾文探針顯微鏡
掃描電容顯微鏡
壓電力顯微鏡
樣品溫度控制系統(tǒng)（控溫范圍：-20～150℃）
樣品加熱系統(tǒng)（控溫范圍：室溫～250℃）
